攻克轻元素检测难题｜干硅含量测定仪助力薄膜产业品质管控

近日，广东思泰仪器全新推出ST‑G550 干硅含量测定仪，依托 X 射线荧光光谱检测技术，针对薄膜、淋膜、离型膜行业硅油涂布量、硅残留、硅铝配比检测痛点，提供高效无损的检测解决方案，助力新材料企业强化生产全流程品质管控。

一、先进检测原理，攻克轻元素分辨难点

ST‑G550 干硅含量测定仪采用 X 射线荧光光谱原理，由软件控制 X 射线激发样品内部硅及其他元素，元素受激释放特征能量谱线，探测器采集信号后，系统通过算法完成元素识别与含量计算。

设备搭载大面积硅漂移 SDD 探测器，具备优异能量分辨能力，可以有效分辨 Al 铝、Si 硅两种轻元素，解决薄膜检测中硅铝相互干扰的行业难题。检测过程无需耗材，经过优化的空气光路系统，在普通大气环境下就可以直接完成测试，无需复杂样品前处理。仪器可实现低至 0.01g/m² 涂硅量的精准测量，对低涂硅量薄膜同样具备出色检测能力。

二、多领域适配，覆盖薄膜行业质控场景

设备适配多种薄膜材料检测需求，广泛用于：各类薄膜、淋膜、离型膜硅油涂布量测定；薄膜制程 Si/Al 元素配比分析；电子产品保护膜硅油残余量检测；电子产品硫化物残留量测定。

无论是实验室抽检，还是生产现场巡检、成品出厂检验，ST‑G550 都可以胜任，适配离型膜、功能保护膜等各类膜材制造企业的检测需求。

三、产品优势，兼顾检测精度与操作便捷

ST‑G550 为国内研发中文操作界面，降低人员上手门槛。支持多点位检测，保障检测结果真实可靠；开放自建标准曲线功能，企业可以基于自身样品建立专属检测模型。整机支持一键测试，全自动完成检测分析，搭配先进运算算法，测试快速，输出结果稳定。

整机配置高清液晶显示屏，测试图谱、数据结果直观展示；预留多路 USB 接口，满足数据存储、通讯传输，检测报告支持多种格式快速打印导出。