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XRF-2020 X射线镀层测厚仪

XRF-2020 X射线镀层测厚仪

 详情说明

​​​测试原理  Test Principle

   采用 X 射线荧光光谱法(XRF) 进行非破坏性镀层厚度检测:仪器通过 X 射线管发射高能 X 射线照射被测样品表面,镀层中的金属原子受激发后释放出具有特征能量的荧光 X 射线;正比计数器采集这些特征荧光信号,根据荧光强度与镀层厚度的对应关系,经软件算法换算得出各层镀层的实际     厚度。该方法无需破坏样品,可同时测定多层镀       层及合金镀层成分与厚度。

 

应用领域 Application field

测量镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铬,镀锌,镀钯,镀锌镍合金等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材

产品优势 Product advantages

1.多镀层检测能力:可测单镀层、双镀层、多镀层(最多六层)、合金镀层,不限基材种类

2.全自动测量平台:XYZ 三轴全自动样品台,支持鼠标定位、程控定位、2D/3D / 随机定位多种模式

3.激光自动对焦:配备激光自动对焦系统,十字线自动调整,光束自动修正,对位精准

4.多规格准直器:标配 5 种准直器(0.1mm / 0.2mm / 0.3mm / 0.4mm / 0.05×0.3mm),适配不同尺寸测点

5.延长设备寿命:自动睡眠模式,有效延长 X 射线管使用寿命

6.丰富输出形式:支持五种报告格式,具备完整统计分析功能,打印前可预览

7.多型号可选:H 型 / L 型 / PCB 型三种机型,另有半自动台、手动台版本,覆盖大小工件及 PCB 大板测量

8.温度补偿:内置温度补偿功能,减少环境温度波动对测量精度的影响


技术特点 Product advantages

模块

技术特点

检测系统

正比计数器检测器;可配多种滤镜

样品台

XYZ 三轴全自动,高速精密马达驱动,可控制加减速;鼠标定位;防呆摄像机监控;箱门开关感应 Y 轴传输

摄像系统

彩色数字 CCD 摄像头;显示器覆盖模式;软件生成刻度线;软件显示真实光束大小;灯光明暗可调

自动修正

光束及十字线自动修正;简易自动对位

统计分析

最大 / 最小值、位移、平均值、标准差;Bar 图、R 图、方型图等;最多处理 90 项数据

定性分析

元素频谱显示;ROI 距离定性分析;标签图案显示元素;ROI 彩色图;局部放大、频谱平滑

测量层数

最多可测六层镀层

测量误差

第一层 ±5% 以内,第二层 ±10% 以内,第三层 ±15% 以内


技术参数 Technical parameters

 ​1.型号参数

参数项

XRF-2020 H

XRF-2020 L

XRF-2020 PCB

适用场景

一般较大工件

端子、连接器、五金、半导体等小件

大型产品(开放式设计)

主机箱尺寸

610W × 670D × 600H mm

610W × 670D × 490H mm

610W × 670D × 490H mm

可测样品大小

550W × 550D × 100H mm(可订制加高至 200mm

550W × 550D × 30H mm

无限宽 × 30H mm

XYZ 三轴移动范围

200W × 150D × 100H mm

200W × 150D × 30H mm

200W × 150D × 30H mm

最大负重

5 kg

3 kg

3 kg

 2.镀层测量范围

镀层种类

测量范围

金(Au

0.03 – 6 μm

镍(Ni

0.3 – 30 μm

钯(Pd

0.03 – 6 μm

锌(Zn

0.3 – 30 μm

锡(Sn

0.3 – 50 μm

银(Ag

0.1 – 50 μm

铬(Cr

0.5 – 25 μm

铜(Cu

0.5 – 30 μm

锌镍合金

0.5 – 25 μm

化学镍

0.5 – 25 μm


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